X-射线光电子能谱仪,是一种表面分析技术,主要用来表征材料表面元素及其化学状态。其基本原理是使用X-射线,如Al Ka =1486.6eV,与样品表面相互作用,利用光电效应,激发样品表面发射光电子,利用能量分析器,测量光电子动能(K.E),根据B.E=hv-K.E-W.F,进而得到激发电子的结合能(B.E)。
为有机化合物结构分析提供信息,配合进行化合物定性定量分析,广泛应用于有机化合物、农药、及生物大分子结构与性能研究。主要应用于有机化合物的结构分析;化工产品分析;工业助剂分析;有机成份分析等。
谢先生