仪器信息
规格型号 :
JEM-2010FF
设备原值 :
1200（万元）
产地国别 :
日本
学科领域 :
技术指标 :
分辨率：点分辨率-0.23nm 条纹分辨率-0.10nm 电子能量分辨率:1.5eV（电子能量损失谱） 20eV（成像模式） 10eV（电子衍射模式） 最高加速电压:200kV 最大放大倍数：150万倍 最小电子束斑尺寸:0.5nm
主要功能 :
纳米尺度的高分辨和高空间分辨观察。
服务信息
服务内容 :
适用于先进材料微区、微量相的形貌、结构及成分的综合分析
收费标准 :
用户须知 :
无
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王瑞芳
022-62002900-1116
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